Slajds tal-Mikroskopju tal-Ħġieġ tal-Quarz u Slips tal-Qoxra

Slajds tal-Mikroskopju tal-Ħġieġ tal-Kwarz u Slips Qoxra Dehru Image

Deskrizzjoni qasira:

Post ta 'Oriġini: Jiangsu, iċ-Ċina
Ditta: LZY
Materjal: Ħġieġ ottiku ta 'kwalità għolja
Użu: Ottiku
MOQ: L-ebda limitu

Dettall tal-Prodott

Tags tal-Prodott

Slajds tal-mikroskopju tal-ħġieġ tal-kwarz u cover slips huma ħtieġa għal applikazzjonijiet ta 'mikroskopija fejn hija meħtieġa trasparenza UV. Jistgħu jintużaw ukoll għal applikazzjonijiet ta 'mikroskopija ta' livell għoli biex jitnaqqas it-telf tas-sinjal minħabba l-assorbiment. Applikazzjonijiet oħra jistgħu jinvolvu trasparenza tar-radjazzjoni UV. Il-pjastri tal-kwarz jistgħu jintużaw ukoll għal applikazzjonijiet ta 'temperatura għolja sa 1250 ° C (2282 ° F).

Speċifikazzjoni

Forma	Pjazza,
Tul	0.2-90mm
Ħxuna	0.25-2mm
Tolleranza	+/-0.02mm
S/D	60-40 scratch & dig (MIL-0-13830A)
Apertura ċara	> 85 %, > 90 % > 95 %

Materjal

Kwarz imdewweb
Silika mdewba

Vantaġġi tal-Prodott

magħmula minn grad ottiku Fused Silica
Proprjetajiet Speċjali
Magħmul minn Silika Fused sintetika
Trażmissjoni tad-dawl UV ta 'aktar minn 80% f'185 nm
Purità ħafna ogħla u kwalità tal-materjal minn slajds tal-kwarz fused konvenzjonali joffru
Finitura tal-wiċċ ta 'grad ottiku
Mikro-ħruxija baxxa
Flatness eċċellenti
Dehra ċara kristall
Assorbiment żgħir tad-dawl
Saħħa kimika għolja
Reżistenza għat-temperatura sa 1000 °C

Prodotti murija

Slajds tal-Mikroskopju tal-Ħġieġ tal-Quarz u Slips tal-Qoxra

Proprjetajiet ottiċi tal-ħġieġ tal-kwarz

Tul tal-mewġ	Trasmittanza%
nm	Ħġieġ tal-kwarz sintetiku	Ħġieġ tal-kwarz imdewweb	Ħġieġ tal-kwarz infra-aħmar
170	50	10	0
180	80	50	3
190	84	65	8
200	87	70	20
220	90	80	60
240	91	82	65
260	92	86	80
280	92	90	90
300	92	91	91
320	92	92	92
340	92	92	92
360	92	92	92
380	92	92	92
400-2000	92	92	92
2500	85	87	92
2730	10	30	90
3000	80	80	90
3500	75	75	88
4000	55	55	73
4500	15	25	35
5000	7	15	30

Applikazzjonijiet

Slajds tal-mikroskopju għal applikazzjonijiet ta' mikroskopija xjentifika
Trasportaturi ta' oġġetti għall-użu fil-laboratorju mediku
Analitika u bijoteknoloġija
Mikroskopija UV- u DUV xjentifika
Coverslips b'telf baxx u assorbiment
Stadji tal-mikroskopju b'temperatura għolja
Soluzzjonijiet għall-ħażna tal-kampjuni
Slajds tal-mikroskopju kimikament reżistenti
Coverslips permeabbli għall-UV u inerti
Tagħmir tal-mikroskopija UV
Slajds tal-kwarz għar-riċerka medika u taċ-ċelluli
Qoxra tal-kwarz għall-ispettroskopija UV

Karatteristika tal-kwarz

SIO2	99.99%
Densità	2.2 (g/ċm3)
Grad ta 'l-ebusija moh' skala	6.6
Punt tat-tidwib	1732℃
Temperatura tax-xogħol	1100℃
It-temperatura massima tista 'tilħaq fi żmien qasir	1450℃
Tolleranza għall-aċidu	30 darba minn ċeramika, 150 darba minn stainless
Trażmissjoni tad-dawl viżibbli	'il fuq minn 93%
Trażmissjoni tar-reġjun spettrali UV	80%
Valur tar-reżistenza	10000 darba minn ħġieġ ordinarju
Punt ta' ttemprar	1180℃
Punt ta 'trattib	1630℃
Strain point	1100℃

Ħin taċ-Ċomb

Għall-partijiet tal-istokk, aħna nibgħatu fi żmien ġimgħa. Għal partijiet personalizzati, jekk jogħġbok ikkuntattjana għal aktar informazzjoni. Jekk għandek bżonn urġenti, aħna nirranġaw bi prijorità.